É um ensaio destrutivo. Como a superfície vai sendo desgastada ao longo do processo, esta técnica permite traçar um perfil de composição química em função da profundidade do material (depth profiling).
|
|
GDOES Glow discharge optical emission spectroscopy |
|
|
Técnica que identifica as espécies químicas presentes na superfície de uma amostra de material condutor (caso D.C.) e de material isolante ou semicondutor (caso R.F.). | ||
|
É um ensaio destrutivo. Como a superfície vai sendo desgastada ao longo do processo, esta técnica permite traçar um perfil de composição química em função da profundidade do material (depth profiling). |
|||
| Figura 1 Esquema de montagem e materiais de uma configuração típica (D.C.). Clique na imagem para uma ampliação. | |||
| Princípio | |||